本產品Socket本體為PEI;Socket 結構采用Open-top/翻蓋形式;彈片材料為鍍銅;機械測試壽命為1.5-2.5萬次;QFN下壓測試座機械測試壽命可達10萬次;使用溫度為-55°C ~ +175C°C。
適用器件:QFN老化座/燒錄座、BGA下老化座/燒錄座、QFP翻蓋老化座/燒錄座
適用行業:軍工電子、消費電子、半導體設計、封測企業...